Yükleniyor...

PATENT DETAYI

Mikron hassasiyetinde otomatik ve manuel delik honlama (ölçülendirme) mekanizması

Patent
2023/016778

Mikron hassasiyetinde otomatik ve manuel delik honlama (ölçülendirme) mekanizması

PATENT
TÜRKPATENT
2023/016778
08.12.2023
  • MURAT ABDİOĞLU
  • BÜNYAMİN EKMEN
  • ÜLKÜ YEŞİL